利用磁光克尔效应，对铁磁、人工反铁磁、二维材料和微电子器件的磁性进行高精度表征。能同时施加面内和垂直磁场，对面内磁化分量和垂直磁化分量进行同时扫描，即能够同时获得面内磁场/垂直磁场-面内分量/垂直分量任意组合的磁滞回线。克尔转角检出精度高达0.3mdeg（RMS），可检测单原子层磁化强度。 提供可绑线样品托，可进行电学-磁光特性的表征。 产品由本公司自主研发，稳定性强、可扩展性良好，提供定制服务;与同行类似设备相比，磁场更大，精度更高，无需更换光路即可实现面内和垂直磁滞回线测量，激光自动对准，