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利用磁光克尔效应,对铁磁、人工反铁磁、二维材料和微电子器件的磁性进行高精度表征。能同时施加面内和垂直磁场,对面内磁化分量和垂直磁化分量进行同时扫描,即能够同时获得面内磁场/垂直磁场-面内分量/垂直分量任意组合的磁滞回线。克尔转角检出精度高达0.3mdeg(RMS),可检测单原子层磁化强度。 提供可绑线样品托,可进行电学-磁光特性的表征。 产品由本公司自主研发,稳定性强、可扩展性良好,提供定制服务;与同行类似设备相比,磁场更大,精度更高,无需更换光路即可实现面内和垂直磁滞回线测量,激光自动对准,
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